無(wú)錫優(yōu)測(cè)檢測(cè)技術(shù)有限公司歡迎您!
- 微信公眾號(hào)
掃一掃關(guān)注
- 收藏本站
- 聯(lián)系客服
掃一掃關(guān)注
振動(dòng)測(cè)試是在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工模擬產(chǎn)品(一般電工電子產(chǎn)品)在存儲(chǔ)、運(yùn)輸、安裝和使用過(guò)程中遇到的各種振動(dòng)環(huán)境的影響,用來(lái)評(píng)估產(chǎn)品是否能承受各種環(huán)境振動(dòng)的能力,是否能正常使用,不出現(xiàn)故障。..
18961667489 立即咨詢(xún)振動(dòng)、沖擊、跌落試驗(yàn)
振動(dòng)項(xiàng)目介紹
振動(dòng)測(cè)試是在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工模擬產(chǎn)品(一般電工電子產(chǎn)品)在存儲(chǔ)、運(yùn)輸、安裝和使用過(guò)程中遇到的各種振動(dòng)環(huán)境的影響,用來(lái)評(píng)估產(chǎn)品是否能承受各種環(huán)境振動(dòng)的能力,是否能正常使用,不出現(xiàn)故障。
振動(dòng)試驗(yàn)?zāi)康?/strong>
振動(dòng)測(cè)試可在產(chǎn)品在正式出廠之前,分析和評(píng)估出產(chǎn)品的可靠性,降低后期出現(xiàn)不良品的概率,也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。
振動(dòng)試驗(yàn)應(yīng)用范圍
電工電子產(chǎn)品做振動(dòng)測(cè)試需求較多,因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品大部分屬于精密產(chǎn)品,如手機(jī),平板等,內(nèi)部結(jié)構(gòu)和器件較為精密,振動(dòng)環(huán)境對(duì)其影響較大,需要確保振動(dòng)因素對(duì)產(chǎn)品可靠性產(chǎn)生的影響。
振動(dòng)測(cè)試分類(lèi)
可靠性振動(dòng)測(cè)試一般分2個(gè)類(lèi)型,正弦振動(dòng)測(cè)試和隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試。正弦振動(dòng)是實(shí)驗(yàn)室中經(jīng)常采用的試驗(yàn)方法,以模擬旋轉(zhuǎn)、脈動(dòng)、震蕩(在船舶、飛機(jī)、車(chē)輛、空間飛行器上所出現(xiàn)的)所產(chǎn)生的振動(dòng)以及產(chǎn)品結(jié)構(gòu)共振頻率分析和共振點(diǎn)駐留驗(yàn)證為主,其又分為掃頻振動(dòng)和定頻振動(dòng)兩種,其嚴(yán)苛程度取決于頻率范圍、振幅值、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間。隨機(jī)振動(dòng)則以模擬產(chǎn)品整體性結(jié)構(gòu)耐震強(qiáng)度評(píng)估以及在包裝狀態(tài)下的運(yùn)送環(huán)境,其嚴(yán)苛程度取決于頻率范圍、GRMS、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間和軸向。
1、正弦振動(dòng)測(cè)試:該測(cè)試給試件施加的是正弦振動(dòng),可以是正弦定頻也可以是正弦掃頻振動(dòng)測(cè)試。
2、隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試:該測(cè)試給試件施加的是隨機(jī)振動(dòng),按隨機(jī)振動(dòng)的頻率寬度分為寬帶隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試和窄帶隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試。
振動(dòng)試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
正弦振動(dòng):GB/T 2423.10 IEC 60068-2-6 EN 60068-2-6 ISO 8318 GB/T 4857.10 ISO 2247 GB/T 4857.7
隨機(jī)振動(dòng):GB/T 2423.56 IEC 60068-2-64
沖擊項(xiàng)目介紹
機(jī)械沖擊測(cè)試是實(shí)驗(yàn)室模擬產(chǎn)品在工作環(huán)境中受到一系列沖擊時(shí)候,產(chǎn)品功能是否正常,是否存在性能失效情況。在產(chǎn)品的實(shí)際存儲(chǔ)、運(yùn)輸、使用過(guò)程中存在各種各樣的沖擊環(huán)境,如車(chē)輛運(yùn)行中制動(dòng),貨物搬動(dòng)時(shí)候碰撞產(chǎn)生的沖擊等。
沖擊測(cè)試的技術(shù)指標(biāo)包括包括:峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、速度變化量(半正弦波、后峰鋸齒波、梯形波)和波形選擇。常規(guī)的機(jī)械沖擊測(cè)試要求每個(gè)面沖擊3次,6個(gè)面總共沖擊次數(shù)為18次。機(jī)械沖擊和碰撞測(cè)試可檢驗(yàn)確定機(jī)械的薄弱環(huán)節(jié),考核產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完整性和可靠性。
機(jī)械沖擊一般產(chǎn)生的加速度較大,時(shí)間較短,如自然環(huán)境中的機(jī)械碰撞。機(jī)械沖擊可能對(duì)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)和功能完整性產(chǎn)生有害的影響。實(shí)驗(yàn)室機(jī)構(gòu)的機(jī)械沖擊類(lèi)型分為三種半正弦、梯形波(方波)、三角波(前鋒鋸齒波及后鋒鋸齒波)。
沖擊測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.5 GB/T 2425.6 IEC 60068-2-27
跌落項(xiàng)目介紹
跌落測(cè)試分為包裝跌落和裸機(jī)跌落。包裝跌落主要考量運(yùn)輸、儲(chǔ)存情況下產(chǎn)品抗意外跌落沖擊的能力;裸機(jī)跌落主要考量產(chǎn)品在正常使用過(guò)程中抗意外跌落沖擊的能力。包裝跌落也可以反映包裝件在受到垂直跌落時(shí)候的對(duì)產(chǎn)品的保護(hù)能力。
跌落高度、跌落次數(shù)以及跌落方向?qū)υ囼?yàn)反映試驗(yàn)嚴(yán)格程度。對(duì)于不同的產(chǎn)品國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的跌落方式和跌落高度要求不同。對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī), MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等,IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿(mǎn)足100cm之掉落高度不可損壞,MIL則建議掉落高度為122cm,Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。
根據(jù)參考標(biāo)準(zhǔn),跌落面為混凝土或者鋼制的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面,或者必要時(shí)候?yàn)槠渌孛?,如大理石地面等?/p>
包裝跌落測(cè)試
包裝跌落測(cè)試一般要求,跌落方式為一角三邊六面自由跌落。
角跌落:跌落后,測(cè)試角撞擊接觸平面;
邊跌落:將樣板底面傾斜致水平20°角,然后將其抬高至測(cè)試高度再跌落,其邊撞擊接觸平面;
面跌落:需使測(cè)試樣板跌落后其平面直接撞擊接觸平面。
包裝跌落測(cè)定外箱或內(nèi)盒之強(qiáng)度及產(chǎn)品包裝之牢固性等方面是否符合品質(zhì)要求。
裸機(jī)跌落測(cè)試
裸機(jī)跌落測(cè)試的目的
裸機(jī)跌落測(cè)試是為了檢測(cè)產(chǎn)品在使用的過(guò)程中,抵抗投擲、跌落的能力。釋放試驗(yàn)樣品的方法應(yīng)使試驗(yàn)樣品從懸掛著的位置自由跌落,釋放時(shí),要使干擾最小。
· ASTM標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器要求:投擲地面需蓋有3.0mm(1/8in)厚膠地板,最少有64mm(2.5in)厚混凝土,且面積不少于3㎡。
· EN71標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器要求:投擲地面為鋪有4mm厚的鋼板,鋼板表面應(yīng)涂有2mm厚、肖氏硬度為75±5A的覆蓋層,并放置在一非柔性的水平表面上。
· GB6675標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器要求:撞擊面應(yīng)由額定厚度約3mm的乙烯基聚合物片材組成,乙烯基聚合物片材附著在至少64mm厚的混凝土上,蓋表面應(yīng)達(dá)到肖氏硬度A80度士10度,面積至少0.3㎡。
跌落測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.8《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落》。
IEC60068-2-32《自由跌落試驗(yàn)方法》。
GB-T4857.5包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法。
ASTM D 5276-98(2009)