振動、沖擊、跌落試驗(yàn)

振動、沖擊、跌落試驗(yàn)

振動項(xiàng)目介紹

振動測試是在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工模擬產(chǎn)品（一般電工電子產(chǎn)品）在存儲、運(yùn)輸、安裝和使用過程中遇到的各種振動環(huán)境的影響，用來評估產(chǎn)品是否能承受各種環(huán)境振動的能力，是否能正常使用，不出現(xiàn)故障。

振動試驗(yàn)?zāi)康?/strong>

振動測試可在產(chǎn)品在正式出廠之前，分析和評估出產(chǎn)品的可靠性，降低后期出現(xiàn)不良品的概率，也能確定產(chǎn)品設(shè)計和功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。

振動試驗(yàn)應(yīng)用范圍

電工電子產(chǎn)品做振動測試需求較多，因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品大部分屬于精密產(chǎn)品，如手機(jī)，平板等，內(nèi)部結(jié)構(gòu)和器件較為精密，振動環(huán)境對其影響較大，需要確保振動因素對產(chǎn)品可靠性產(chǎn)生的影響。

振動測試分類

可靠性振動測試一般分2個類型，正弦振動測試和隨機(jī)振動測試。正弦振動是實(shí)驗(yàn)室中經(jīng)常采用的試驗(yàn)方法，以模擬旋轉(zhuǎn)、脈動、震蕩（在船舶、飛機(jī)、車輛、空間飛行器上所出現(xiàn)的）所產(chǎn)生的振動以及產(chǎn)品結(jié)構(gòu)共振頻率分析和共振點(diǎn)駐留驗(yàn)證為主，其又分為掃頻振動和定頻振動兩種，其嚴(yán)苛程度取決于頻率范圍、振幅值、試驗(yàn)持續(xù)時間。隨機(jī)振動則以模擬產(chǎn)品整體性結(jié)構(gòu)耐震強(qiáng)度評估以及在包裝狀態(tài)下的運(yùn)送環(huán)境，其嚴(yán)苛程度取決于頻率范圍、GRMS、試驗(yàn)持續(xù)時間和軸向。

1、正弦振動測試：該測試給試件施加的是正弦振動，可以是正弦定頻也可以是正弦掃頻振動測試。

2、隨機(jī)振動測試：該測試給試件施加的是隨機(jī)振動，按隨機(jī)振動的頻率寬度分為寬帶隨機(jī)振動測試和窄帶隨機(jī)振動測試。

振動試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)

正弦振動：GB/T 2423.10  IEC 60068-2-6  EN 60068-2-6  ISO 8318  GB/T 4857.10  ISO 2247 GB/T 4857.7

隨機(jī)振動：GB/T 2423.56  IEC 60068-2-64

沖擊項(xiàng)目介紹

機(jī)械沖擊測試是實(shí)驗(yàn)室模擬產(chǎn)品在工作環(huán)境中受到一系列沖擊時候，產(chǎn)品功能是否正常，是否存在性能失效情況。在產(chǎn)品的實(shí)際存儲、運(yùn)輸、使用過程中存在各種各樣的沖擊環(huán)境，如車輛運(yùn)行中制動，貨物搬動時候碰撞產(chǎn)生的沖擊等。

沖擊測試的技術(shù)指標(biāo)包括包括：峰值加速度、脈沖持續(xù)時間、速度變化量（半正弦波、后峰鋸齒波、梯形波）和波形選擇。常規(guī)的機(jī)械沖擊測試要求每個面沖擊3次，6個面總共沖擊次數(shù)為18次。機(jī)械沖擊和碰撞測試可檢驗(yàn)確定機(jī)械的薄弱環(huán)節(jié)，考核產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完整性和可靠性。

機(jī)械沖擊一般產(chǎn)生的加速度較大，時間較短，如自然環(huán)境中的機(jī)械碰撞。機(jī)械沖擊可能對產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)和功能完整性產(chǎn)生有害的影響。實(shí)驗(yàn)室機(jī)構(gòu)的機(jī)械沖擊類型分為三種半正弦、梯形波（方波）、三角波（前鋒鋸齒波及后鋒鋸齒波）。

沖擊測試方法標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.5  GB/T 2425.6  IEC 60068-2-27

跌落項(xiàng)目介紹

跌落測試分為包裝跌落和裸機(jī)跌落。包裝跌落主要考量運(yùn)輸、儲存情況下產(chǎn)品抗意外跌落沖擊的能力；裸機(jī)跌落主要考量產(chǎn)品在正常使用過程中抗意外跌落沖擊的能力。包裝跌落也可以反映包裝件在受到垂直跌落時候的對產(chǎn)品的保護(hù)能力。
跌落高度、跌落次數(shù)以及跌落方向?qū)υ囼?yàn)反映試驗(yàn)嚴(yán)格程度。對于不同的產(chǎn)品國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的跌落方式和跌落高度要求不同。對于手持型產(chǎn)品(如手機(jī), MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。
根據(jù)參考標(biāo)準(zhǔn)，跌落面為混凝土或者鋼制的平滑、堅硬的剛性表面，或者必要時候?yàn)槠渌孛?，如大理石地面等?/p>

包裝跌落測試

包裝跌落測試一般要求，跌落方式為一角三邊六面自由跌落。

角跌落：跌落后，測試角撞擊接觸平面；

邊跌落：將樣板底面傾斜致水平20°角，然后將其抬高至測試高度再跌落，其邊撞擊接觸平面；

面跌落：需使測試樣板跌落后其平面直接撞擊接觸平面。

包裝跌落測定外箱或內(nèi)盒之強(qiáng)度及產(chǎn)品包裝之牢固性等方面是否符合品質(zhì)要求。

裸機(jī)跌落測試

裸機(jī)跌落測試的目的

裸機(jī)跌落測試是為了檢測產(chǎn)品在使用的過程中,抵抗投擲、跌落的能力。釋放試驗(yàn)樣品的方法應(yīng)使試驗(yàn)樣品從懸掛著的位置自由跌落，釋放時，要使干擾最小。

· ASTM標(biāo)準(zhǔn)測試儀器要求：投擲地面需蓋有3.0mm（1/8in）厚膠地板，最少有64mm（2.5in）厚混凝土，且面積不少于3㎡。

· EN71標(biāo)準(zhǔn)測試儀器要求：投擲地面為鋪有4mm厚的鋼板，鋼板表面應(yīng)涂有2mm厚、肖氏硬度為75±5A的覆蓋層，并放置在一非柔性的水平表面上。

· GB6675標(biāo)準(zhǔn)測試儀器要求：撞擊面應(yīng)由額定厚度約3mm的乙烯基聚合物片材組成，乙烯基聚合物片材附著在至少64mm厚的混凝土上，蓋表面應(yīng)達(dá)到肖氏硬度A80度士10度，面積至少0.3㎡。

跌落測試方法標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.8《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落》。

IEC60068-2-32《自由跌落試驗(yàn)方法》。

GB-T4857.5包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法。

ASTM D 5276-98(2009)